ÚTEF - Ústav technické a experimentální fyziky ČVUT - České vysoké učení technické v Praze
Česky English
ÚTEF - Ústav technické a experimentální fyziky ČVUT - České vysoké učení technické v Praze
ČVUT - České vysoké učení technické v Praze
Dílčí úkoly  > Zobrazování pomocí rentgenových fluorescencí
Zobrazování pomocí rentgenových fluorescencí


Rentgenová fluorescence(XRF)je dobře známá analytická metoda určená ke stanovování prvkového složení daného materiálu. Pro přesnou prvkovou analýzu se obvykle používají vysoce kvalitní spektroskopické detektory. Je však složité získat informaci o prostorovém rozložení daných prvků. Tento obraz prostorové distribuce prvků lze získat s využitím pixelových detektorů Medipix nebo TimePix.
V našem experimentálním uspořádání je vzorek ozařován zdrojem rentgenového záření. Obraz flourescenčního záření emitovaného vzorkem je promítán na povrch detektoru pomocí dírkového kolimátoru (camera obscura). Energetické rozlišení detektoru Timepix je přibližně 3keV, což neumožňuje provádět přesnou prvkovou analýzu. Je-li však globální prvkové složení vzorku předem známo (nebo ho lze odhadnout) a pokud je odezva každého pixelu detektoru okalibrována na flourescenční spektrum jednotlivých prvků, pak lze obrázek rozložení prvků ve vzorku získat metodou dekomposice spekter.
Timepix detekuje fotonové záření s minimální energií cca 3keV. Z tohoto důvodu lze touto metodou sledovat pouze prvky s atomovým čislem větším než 19 (draslík). Vzájemně lze potom od sebe odlišit prvky s atomovým číslem lišícím se o 1.



Řešitel

Spolupracovníci

Granty:
Číslo Název Agentura
1P04LA211 Spolupráce ČR s CERN MŠMT
MSM 6840770040 Výzkumný záměr 40: Využití radionuklidů a ionizujícího záření. MŠMT


Články v impaktovaných časopisech
(6)
Textový výpis
Rok

Ocenění Název Autor Časopis OceněníRok
Mobile system for in-situ imaging of cultural objects Žemlička J. ; Jakůbek J. ; Krejčí F. ; Hradil D.; Hradilová J.; Mislerová H. Journal of Instrumentation 7 C01108, doi:10.1088/1748-0221/7/01/C01108 2012
Analysis of painted arts by energy sensitive radiographic techniques with the Pixel Detector Timepix Žemlička J. ; Jakůbek J. ; Kroupa M. ; Hradil D.; Hradilová J.; Mislerová H. Journal of Instrumentation 6 C01066, doi: 10.1088/1748-0221/6/01/C01066 2011
X-Ray Fluorescence Imaging With the Medipix2 Single-Photon Counting Detector Uher J.; Harvey G.; Jakůbek J. IEEE Transactions on Nuclear Science, Vol. PP, Issue: 99, doi: 10.1109/TNS.2011.2173352 2011
Energy and Position Sensitive Pixel Detector Timepix for X-Ray Fluorescence Imaging Žemlička J. ; Jakůbek J. ; Kroupa M. ; Tichy V. NIM A, Vol. 607, Issue 1, p. 202-204 2009
Pixel 2008 - Invited talk Semiconductor Pixel Detectors and their Applications in Life Sciences Jakůbek J. 2009 JINST 4 P03013 doi:10.1088/1748-0221/4/03/P03013 2009
X-Ray Fluorescence Imaging with Pixel Detectors Tichy V. ; Holý T. ; Jakůbek J. ; Linhart V.; Pospíšil S. ; Vykydal Z. Nucl. Instr. and Meth. A, Volume: 591, Issue:1, Pages: 67-70, doi: 10.1016/j.nima.2008.03.122 2008
Hledat
Události

IEEE NSS/MIC/RTSD
Seoul
27 Oct - 2 Nov 2013

15thIWORID
Paris
23-27 June 2013

NSS MIC IEEE Conference
Anaheim, USA
29 Oct - 3 Nov 2012

Int. Workshop on Radiation Imaging Detectors
1-5 July 2012

Program oslav 10. výročí založení ÚTEF
4-6. 6. 2012

Pozice pro mladé výzkumné pracovníky

Příležitostní razítko k 10. výročí ÚTEF
Na Hrádku 2, Praha 2
30.4, 2-4.5 2012

Collaboration Meeting NEMO/SuperNEMO
Prague, Czech Republic
27.2.-1.3. 2012

Vzpomínkové setkání k připomenutí životní cesty RNDr. Františka Lehara, DrSc.
Refektář Benediktinského opatství v Emauzích, Praha 2
8. února 2012

Zemřel František Lehar
Lyon, Francie
23.11.2011

Vše...
10th Anniversary of IEAP