ÚTEF - Ústav technické a experimentální fyziky ČVUT - České vysoké učení technické v Praze
Česky English
ÚTEF - Ústav technické a experimentální fyziky ČVUT - České vysoké učení technické v Praze
ČVUT - České vysoké učení technické v Praze
Dílčí úkoly  > Elektronické testy (I-V a C-V měření)
Elektronické testy (I-V a C-V měření)

Disponujeme základním přístrojovým vybavením, umožňující provádět základní elektronické testy. Mezi tyto testy lze zahrnout následující měření:

  • Voltampérová charakteristika polovodičových vzorků (detektorů), tzv. I-V měření
  • Závislost kapacity vzorku (detektoru) na napětí, tzv. C-V měření

V současnosti mezi naše vybavení patří následující měřící přístroje:

  • KEITHLEY 2410 – zdroj napětí a proudu + měří napětí, proud, odpor.
  • KEITHLEY 6517A – elektrometr, přístroj pro měření malých proudů (~fA).
  • BOONTON 72BD – přístroj pro měření kapacity (max. 2000pF).
  • HP 4280A - přístroj pro měření kapacity s vlastním zdrojem napětí, umožňuje C-V měření do 100V.
  • GPIB-USB-HS  - rozhraní GPIB USB umožňující softwarové řízení všech výše uvedených přístrojů.


Řešitel


Ostatní publikace
(0)
Hledat
Události

IEEE NSS/MIC/RTSD
Seoul
27 Oct - 2 Nov 2013

15thIWORID
Paris
23-27 June 2013

NSS MIC IEEE Conference
Anaheim, USA
29 Oct - 3 Nov 2012

Int. Workshop on Radiation Imaging Detectors
1-5 July 2012

Program oslav 10. výročí založení ÚTEF
4-6. 6. 2012

Pozice pro mladé výzkumné pracovníky

Příležitostní razítko k 10. výročí ÚTEF
Na Hrádku 2, Praha 2
30.4, 2-4.5 2012

Collaboration Meeting NEMO/SuperNEMO
Prague, Czech Republic
27.2.-1.3. 2012

Vzpomínkové setkání k připomenutí životní cesty RNDr. Františka Lehara, DrSc.
Refektář Benediktinského opatství v Emauzích, Praha 2
8. února 2012

Zemřel František Lehar
Lyon, Francie
23.11.2011

Vše...
10th Anniversary of IEAP