ÚTEF - Ústav technické a experimentální fyziky ČVUT - České vysoké učení technické v Praze
Česky English
ÚTEF - Ústav technické a experimentální fyziky ČVUT - České vysoké učení technické v Praze
ČVUT - České vysoké učení technické v Praze
Publikace  > Články v impaktovaných časopisech  > 'Beam tests of ATLAS SCT silicon strip detector modules'
Beam tests of ATLAS SCT silicon strip detector modules

Autor
Campabadal F. IBM-CNM
Linhart Vladimir, Ing. Ph.D. UTEF
Pospíšil Stanislav, DrSc. Ing. UTEF
Štekl Ivan, Doc. CSc. UTEF
et al.  -

Rok
2005

Časopis
NIM A 538 (2005) 384-407

Web


Obsah
The design and technology of the silicon strip detector modules for the Semiconductor Tracker (SCT) of the ATLAS experiment have been finalised in the last several years. Integral to this process has been the measurement and verification of the tracking performance of the different module types in test beams at the CERN SPS and the KEK PS. Tests have been performed to explore the module performance under various operating conditions including detector bias voltage, magnetic field, incidence angle, and state of irradiation up to 3×1014 protons per square centimetre. A particular emphasis has been the understanding of the operational consequences of the binary readout scheme.
Granty

Projekty


Příklad citace článku:
F. Campabadal, V. Linhart, S. Pospíšil, I. Štekl, . et al., "Beam tests of ATLAS SCT silicon strip detector modules", NIM A 538 (2005) 384-407 (2005)

Hledat
10th Anniversary of IEAP