ÚTEF - Ústav technické a experimentální fyziky ČVUT - České vysoké učení technické v Praze
Česky English
ÚTEF - Ústav technické a experimentální fyziky ČVUT - České vysoké učení technické v Praze
ČVUT - České vysoké učení technické v Praze
Semináře  > X-ray Dynamic Defectoscopy, A Way to Study Damage Processes
X-ray Dynamic Defectoscopy, A Way to Study Damage Processes

Datum
17.12.2002 14:00
Přednášející
Ing. Daniel Vavřík, Ph.D. ÚTEF ČVUT/ÚTAM AVČR


Obsah

Hledat
10th Anniversary of IEAP