ÚTEF - Ústav technické a experimentální fyziky ČVUT - České vysoké učení technické v Praze
Česky English
ÚTEF - Ústav technické a experimentální fyziky ČVUT - České vysoké učení technické v Praze
ČVUT - České vysoké učení technické v Praze
Zaměstnanci  > Kroupa Martin, Ing.
Kroupa Martin
Kroupa Martin, Ing.


Osobní údaje

Granty - nositel/řešitel (1)
22909/09/NL/Cbi Laboratory Wide Dynamic Range Gamma-Ray Calibration Facility ESA 1.2.2010-31.5.2011

Vše
(26)
Textový výpis
Rok

Ocenění Název Autor Časopis OceněníRok
Detection of Soft X-rays with the Pixel Detector Timepix operated as a highly sensitive Dark-Current free CCD-like Camera Krejčí F.; Kroupa M.; Jakůbek J.; Brůža P.; Pánek D. 2011 IEEE Nuclear Science Symposium Conference Record, NP5.S-166, 1708 - 1712 2012
Dynamics of Charge Collection in Pixelated Semiconductor Sensor Studied with Heavy Ions and Timepix Soukup P.; Jakůbek J.; Kroupa M.; Pospíšil S.; Martisikova M. IEEE Nucl. Sc. Symp. Conf. Record R04-59 p. 4184-4187. 2012
Pixel detector Timepix operated in pile-up mode for pulsed imaging with ultra-soft X-rays Krejčí F.; Jakůbek J.; Kroupa M.; Brůža P.; Pánek D. Journal of Instrumentation 7 C12013 2012
Probe and scanning system for 3D response mapping of pixelated semiconductor detector with X-rays and the timepix device Jakůbek M.; Jakůbek J.; Žemlička J.; Kroupa M.; Krejčí F. AIP Conf. Proc. 1423, pp. 461-466; doi:10.1063/1.3688846 2012
Analysis of painted arts by energy sensitive radiographic techniques with the Pixel Detector Timepix Žemlička J.; Jakůbek J.; Kroupa M.; Hradil D.; Hradilová J.; Mislerová H. Journal of Instrumentation 6 C01066, doi: 10.1088/1748-0221/6/01/C01066 2011
Coincidence Imaging System with Electron Optics Kroupa M.; Jakůbek J.; Krejčí F.; Žemlička J.; Horáček M.; Radlička T.; Vlček I. Nucl. Instr. Methods A 633, Suppl. 1, S270-S273 2011
Energy calibration of pixel detector working in Time-Over-Threshold mode using test pulses Tureček D.; Jakůbek J.; Kroupa M.; Soukup P. Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC), IEEE 2011
FITPix – Fast Interface for Timepix Pixel Detectors Kraus V.; Holík M.; Jakůbek J.; Kroupa M.; Soukup P.; Vykydal Z. Journal of Instrumentation 6 C01079, doi: 10.1088/1748-0221/6/01/C01079 2011
High Contrast Laminography Using Iterative Algorithms Kroupa M.; Jakůbek J. JINST 6 C01045, doi: 10.1088/1748-0221/6/01/C01045 2011
Radiography in Engineering Practice Vavřík D.; Dammer J.; Jakůbek J.; Jeon I.; Jiroušek O.; Kroupa M.; Zlámal P. Nucl. Instr. Methods A, Vol. 633, Suppl. 1, p. S152-S155, doi:10.1016/j.nima.2010.06.152 2011
Semiconductor pixel detector with absorption grid as a tool for charge sharing studies and energy resolution improvement Krejčí F.; Jakůbek J.; Kroupa M.; Jurka V.; Hruška K. Journal of Instrumentation 6 C12034 2011
Single grating method for low dose 1-D and 2-D phase contrast X-ray imaging Krejčí F.; Jakůbek J.; Kroupa M. Journal of Instrumentation 6 C01073 2011
Wide Energy Range Gamma-Ray Calibration Facility Kroupa M.; Janout Z.; Králík M.; Krejčí F.; Owens A.; Pospíšil S.; Quarati F.; Šolc J. IEEE NSS/MIC Knoxville Conf. Record (2011) 2011
Wide Energy Range Gamma-Ray Calibration Source Kroupa M.; Granja C.; Janout Z.; Králík M.; Krejčí F.; Owens A.; Pospíšil S.; Quarati F.; Šolc J.; Vobecký M. Journal of Instrumentation 6 T11002 2011
X-ray Phase Contrast Imaging Using Single Absorption Coded Aperture Krejčí F.; Jakůbek J.; Kroupa M. Nucl. Instr. Methods A 633, Suppl. 1, 181 - 184 2011
XUV radiation from gaseous nitrogen and argon target laser plasmas Vrba P.; Vrbová M.; Brůža P.; Pánek D.; Krejčí F.; Kroupa M.; Jakůbek J. Journal of Physics: Conference Series 2011
Hard x-ray phase contrast imaging using single absorption grating and hybrid semiconductor pixel detector Krejčí F.; Jakůbek J.; Kroupa M. Rev. Sci. Instrum. 81, 113702 2010
Energeticky citlivá rentgenová radiografie pro účely nedestruktivního průzkumu historických maleb Žemlička J.; Jakůbek J.; Kroupa M.; Hradil D.; Hradilová J.; Mislerová H. Acta Artis Academica: Příběh umění - Proměny výtvarného díla v čase, s. 339-350, ISBN 978-80-87108-14-7 2010
Low dose X-ray phase contrast imaging sensitive to phase effects in 2-D Krejčí F.; Jakůbek J.; Kroupa M. IEEE NSS/MIC/RTSD Knoxville Conf. Record M09-166, doi: 10.1109/NSSMIC.2010.5874172 2010
New approach in phase contrast X-ray imaging using coded aperture Krejčí F.; Jakůbek J.; Kroupa M. 11th ICATPP Conference, Villa Olmo - Como (Italy), 5-9 October 2009, ISBN 10 981-4307-51-2, pp. 59 – 63 2010
Non-Contact Imaging with Enhanced Spatial Resolution by Secondary Electron Detection Kroupa M.; Jakůbek J.; Krejčí F. IEEE NSS/MIC Knoxville Conf. Record, page 462-463, doi: 10.1109/NSSMIC.2010.5873803 2010
Non-contact Electron optics System for Coincidence Imaging analysis Kroupa M.; Jakůbek J.; Krejčí F. 11th ICATPP Conference, Villa Olmo - Como (Italy), 5-9 October 2009, ISBN 10 981-4307-51-2, pp. 631 – 635 2010
Strain analysis of trabecular bone using time-resolved X-ray microtomography Jiroušek O.; Zlámal P.; Kytýř D.; Kroupa M. NIM A (accepted) 2010
Energy and Position Sensitive Pixel Detector Timepix for X-Ray Fluorescence Imaging Žemlička J.; Jakůbek J.; Kroupa M.; Tichy V. NIM A, Vol. 607, Issue 1, p. 202-204 2009
Charge Collection Characterization with Semiconductor Pixel Detector Timepix Kroupa M.; Jakůbek J.; Krejčí F. IEEE NSS/MIC/RTSD Conf. Proc. (2008) R12-37 2008
Enhancement of Spatial Resolution of Roentgenographic Methods Using Deconvolution Krejčí F.; Jakůbek J.; Kroupa M.; Dammer J.; Vavřík D. IEEE NSS/MIC Conf. Proc. (2008) M06-315 2008
Hledat
10th Anniversary of IEAP