ÚTEF - Ústav technické a experimentální fyziky ČVUT - České vysoké učení technické v Praze
Česky English
ÚTEF - Ústav technické a experimentální fyziky ČVUT - České vysoké učení technické v Praze
ČVUT - České vysoké učení technické v Praze
Dílčí úkoly  > Zobrazování pomocí rentgenových fluorescencí
Zobrazování pomocí rentgenových fluorescencí


Rentgenová fluorescence(XRF)je dobře známá analytická metoda určená ke stanovování prvkového složení daného materiálu. Pro přesnou prvkovou analýzu se obvykle používají vysoce kvalitní spektroskopické detektory. Je však složité získat informaci o prostorovém rozložení daných prvků. Tento obraz prostorové distribuce prvků lze získat s využitím pixelových detektorů Medipix nebo TimePix.
V našem experimentálním uspořádání je vzorek ozařován zdrojem rentgenového záření. Obraz flourescenčního záření emitovaného vzorkem je promítán na povrch detektoru pomocí dírkového kolimátoru (camera obscura). Energetické rozlišení detektoru Timepix je přibližně 3keV, což neumožňuje provádět přesnou prvkovou analýzu. Je-li však globální prvkové složení vzorku předem známo (nebo ho lze odhadnout) a pokud je odezva každého pixelu detektoru okalibrována na flourescenční spektrum jednotlivých prvků, pak lze obrázek rozložení prvků ve vzorku získat metodou dekomposice spekter.
Timepix detekuje fotonové záření s minimální energií cca 3keV. Z tohoto důvodu lze touto metodou sledovat pouze prvky s atomovým čislem větším než 19 (draslík). Vzájemně lze potom od sebe odlišit prvky s atomovým číslem lišícím se o 1.



Řešitel

Spolupracovníci

Granty:
Číslo Název Agentura
1P04LA211 Spolupráce ČR s CERN MŠMT
MSM 6840770040 Výzkumný záměr 40: Využití radionuklidů a ionizujícího záření. MŠMT



Warning: pg_query() [function.pg-query]: Query failed: ERROR: column pub.p does not exist in /var/www/www/sys/sys_sql.php on line 35
Články v impaktovaných časopisech
(6)
Hledat
10th Anniversary of IEAP