ÚTEF - Ústav technické a experimentální fyziky ČVUT - České vysoké učení technické v Praze
Česky English
ÚTEF - Ústav technické a experimentální fyziky ČVUT - České vysoké učení technické v Praze
ČVUT - České vysoké učení technické v Praze
Zaměstnanci  > Vavřík Daniel, Ing., Ph.D.
Vavřík Daniel
Vavřík Daniel, Ing., Ph.D.

Oddělení: Oddělení fyzikálních aplikací a technologií
Funkce:
Telefon: +420 224 359 181
E-mail: Daniel.Vavrik@utef.cvut.cz
Spolupráce: kmenový zaměstnanec

Osobní údaje

Granty - nositel/řešitel (3)
ACP2-GA-2012-314562 Quantitative Inspection of Complex Composite Aeronautic Parts Using Advanced X-ray Techniques (QUICOM) European Union Seventh Framework Programme 1.1.2012-31.12.2015
103/09/2101 Vyhodnocování energie odpovědné za růst trhliny GAČR 1.1.2009-31.12.2012
106/04/0567 Studium zóny poškození ve vysoce tvárných materiálech v okolí čela trhliny metodou X-Ray Dynamic Defectoscopy GAČR 1.1.2005-1.1.2007

Příspěvky ve sbornících konferencí
(28)
Textový výpis
Rok

Ocenění Název Autor Časopis OceněníRok
Enhancement of Spatial Resolution of Roentgenographic Methods Using Deconvolution Krejčí F.; Jakůbek J.; Kroupa M.; Dammer J.; Vavřík D. IEEE NSS/MIC Conf. Proc. (2008) M06-315 2008
Material Analysis Using Characteristic Transmission Spectra Vavřík D.; Jakůbek J. IEEE NSS/MIC Conf. Proc. (2008), N30-320 2008
Metoda interpolovaných elips založena na digitální obrazové korelaci Vavřík D.; Jandejsek I. Engineering Mechanics 2008, ISBN 978-80-87012-11-6, pp. 252-253 2008
Mikro radiografické měření rozvoje materiálového poškození Vavřík D.; Jakůbek J. Conf. Proc. of New Methods of Damage and Failure Analysis of Structural Parts, ISBN 978-80-248-813-9, p. 331-337 2008
Mikroradiografické pozorování pole napětí v blízkosti čela trhliny Vavřík D.; Jakůbek J.; Holý T. 17th European Conference on Fracture, ISBN 978-80-214-3692-3, pp. 76-83 2008
Real-Time X-Ray 2-D and 3-D Micro-Imaging of Living Animals with Medipix2 Single Photon Counting Detector Frallicciardi P.; Dammer J.; Weyda F.; Jakůbek J.; Vavřík D.; Pospíšil S. Conf. Proc. IEEE NSS/MIC 2008, M10-112 2008
Real-time in-vivo imaging of small organisms Dammer J.; Jakůbek J.; Hanus R.; Weyda F.; Vavřík D. ICATPP congf. proceedings, p. 640-644 2008
In-vivo real-time X-ray µ-imaging Dammer J.; Holý T.; Jakůbek J.; Jakůbek M.; Pospíšil S.; Vavřík D. AIP Vol. 958 (2007), pp 139 2007
Invited lecture Microadiographic Measurement of Moving Material Structures Vavřík D.; Holý T.; Jakůbek J.; Jakůbek M. Proceedings of International Symposium on Technology for Next Generation Vehicle & Machine (2007) 2007
Microradiographic Observation of Grainy Structure of Al Alloy Vavřík D.; Holý T.; Jakůbek J.; Jakůbek M.; Valach J. IEEE NSS Conf. Proc. (2007) N24-432 2007
Microradiography with Semiconductor Pixel Detectors Jakůbek J.; Cejnarová A.; Dammer J.; Holý T.; Platkevič M.; Pospíšil S.; Vavřík D.; Vykydal Z. Amer. Inst. of Physics (AIP) Conf. Proc., Volume: 958, Pages: 131-135, doi: 10.1063/1.2825764 2007
Radiography of Chaotically Moving Objects Vavřík D.; Dammer J.; Holý T.; Jakůbek J.; Jakůbek M.; Jandejsek I. AIP Vol. 958 (2007) 139-142 2007
Silicon Detectors for Neutron Imaging Uher J.; Jakůbek J.; Holý T.; Pospíšil S.; Thungstrom G.; Vavřík D.; Vykydal Z. Amer. Inst. of Physics (AIP) Conf. Proc., Volume: 958, Pages: 101-105, doi: 10.1063/1.2825756 2007
Spectrometric Properties of TimePix Pixel Detector for X-ray Color and Phase Sensitive Radiography Jakůbek J.; Dammer J.; Holý T.; Jakůbek M.; Pospíšil S.; Tichy V.; Uher J.; Vavřík D. IEEE NSS Conf. Proc. (2007) N50-6 2007
3D Measurement of the Strain Field Surrounding Crack Tip Vavřík D.; Bryscejn J.; Jakůbek J.; Valach J. European Conference of Fracture, p. 323-328. ISBN 1-4020-4971-4 2006
Direct thickness calibration: way to radiographic study of soft tissues Vavřík D.; Holý T.; Jakůbek J.; Pospíšil S.; Vykydal Z.; Dammer J. 9th ICATPP 2005 Conf. Proc., Pages: 773-778, doi: 10.1142/9789812773678_0122 2006
IEAP Detector Laboratories of the CTU in Prague Král V.; Beneš P.; Horažďovský T.; Jakůbek J.; Kohout Z.; Linhart V.; Pospíšil S.; Slavíček T.; Solar M.; Sopko B.; Sopko V.; Uher J.; Vavřík D.; Vykydal Z. Proceedings of Workshop 2008, CTU in Prague, Volume: 10, Pages: 518-519, ISBN-80-01-03439-9 2006
Microradiographic Observation of Material Damage Structure Vavřík D.; Holý T.; Jakůbek J.; Jakůbek M.; Vykydal Z. 2006 IEEE Nuclear Science Symposium Conference Record, Pages: 1081-1083, doi: 10.1109/NSSMIC.2006.356034 2006
Optical measurement of surface displacements in the vicinity of crack tip Valach O.; Vavřík D.; Bryscejn J.; Jakůbek J. Proc. of Engineering Mechanics 2006, p. 400-401. ISBN 80-86246-27-2 2006
Radiografické pozorování poškozování a souběžné optické 3D měření vývoje povrchových deformací v zatěžovaném vzorku Vavřík D.; Bryscejn J.; Jakůbek J.; Holý T.; Valach J.; Vykydal Z. Engineering Mechanics 2006 Conference proceedings, Pages: 408-415, ISBN 80-86246-27-2 2006
Radiographic Observation of Damage Zone Evolution in High Ductile Specimen Vavřík D.; Holý T.; Jakůbek J.; Jakůbek M.; Bryscejn J.; Tichy V.; Vykydal Z.; Valach J. European Conference of Fracture, Pages: 323-328, ISBN 1-4020-4971-4 2006
Nová experimentální sestava pro studium fyzikálních procesů předcházejících porušení vzorku Vavřík D.; Bryscejn J.; Holý T.; Jakůbek J.; Valach J.; Vykydal Z. Engineering Mechanics 2005 Conference proceedings, Pages: 331-336, ISBN 80-85918-93-5 2005
X-ray Micro Radiography Using Beam Hardening Correction Vavřík D.; Holý T.; Jakůbek J.; Pospíšil S.; Vykydal Z.; Dammer J. 2005 IEEE Nuclear Science Symposium Conference Record, Pages: 2989-2992 , doi: 10.1109/NSSMIC.2005.1596959 2005
Crack Instability Analyzed by the Method of Interpolated Ellipses Vavřík D.; Jakůbek J.; Zemánková J. Proceedings, SEM X Costa Mesa, California USA 2004
Properties of Neutron Pixel Detector based on Medipix-2 Device Jakůbek J.; Holý T.; Lehmann E.; Pospíšil S.; Uher J.; Vacík J.; Vavřík D. IEEE NSS 2004 Conf. Proc. 2004
Non-destructive observation of damage processes by X-ray dynamic defectoscopy Vavřík D.; Jakůbek J.; Pospíšil S.; Visschers J. International Conference on the Mechanical Behaviour of Materials, Conf. Proc. 2003
Present status of X-ray dynamic defectoscopy Vavřík D.; Jakůbek J.; Pospíšil S.; Visschers J. IEEE NSS 2003 Conf. Proc. 2003
Award for the best poster Single Neutron Pixel Detector Based on Medipix-1 Device Jakůbek J.; Pospíšil S.; Uher J.; Vacík J.; Vavřík D. IEEE NSS 2003 Conf. Proc. 2003
Hledat
10th Anniversary of IEAP