ÚTEF - Ústav technické a experimentální fyziky ČVUT - České vysoké učení technické v Praze
Česky English
ÚTEF - Ústav technické a experimentální fyziky ČVUT - České vysoké učení technické v Praze
ČVUT - České vysoké učení technické v Praze
Publikace  > 'Slow-neutron-induced charged-particle emission-channeling-measurements with Medipix detectors'
Slow-neutron-induced charged-particle emission-channeling-measurements with Medipix detectors

Autor

Rok
2011

Časopis
Nucl. Instr. Methods A 633 (2011) S267-S269

Web


Obsah
The lattice location of helium, lithium, beryllium, boron or sodium host or impurity atoms in single crystals can be studied by slow-neutron-induced charged particle emission channeling measurements. Modern silicon pixel detectors can cover an entire emission channeling pattern in a single measurement and allow reviving this technique for practical applications. We report on the use of the TimePix detector for such emission channeling experiments with samples containing 6Li, 7Be or 10B.
Granty

Projekty


Příklad citace článku:
U. Koester, C. Granja, J. Jakůbek, J. Uher, J. Vacík, "Slow-neutron-induced charged-particle emission-channeling-measurements with Medipix detectors", Nucl. Instr. Methods A 633 (2011) S267-S269 (2011)

Hledat
10th Anniversary of IEAP