ÚTEF - Ústav technické a experimentální fyziky ČVUT - České vysoké učení technické v Praze
Česky English
ÚTEF - Ústav technické a experimentální fyziky ČVUT - České vysoké učení technické v Praze
ČVUT - České vysoké učení technické v Praze
Publikace  > Články v impaktovaných časopisech  > 'LHC1 pixel detector studied in a 120 GeV/c pion test beam'
LHC1 pixel detector studied in a 120 GeV/c pion test beam

Autor

Rok
2000

Časopis
NIM A Vol. 493, pages 536-546

Web


Obsah
Hybrid assemblies of LHC1 read-out chips and 300 μm thick silicon pixel detectors have been tested with a 120 GeV/c pion beam at the CERN SPS. The equivalent noise charge at the input of the preamplifier is 200 e−. The particle detection efficiency is higher than 99.9%. A 30 ns wide efficiency plateau is reached for a 60 ns wide trigger pulse applied after a 2 μs delay. The 50 μm×50 μm pixels yield a spatial precision of σ=129.4±0.2 μm in the large pitch direction. In the other direction the precision is σ=12.2±0.2 μm for single-pixel clusters and σ=8.2±0.2 μm for double-pixel clusters, yielding an average of σ=11.4±0.2 μm. Three different detector layouts on the same pitch were characterized.

Příklad citace článku:
I. Ropotár, J. Jakůbek, S. Pospíšil, I. Štekl, . et al., "LHC1 pixel detector studied in a 120 GeV/c pion test beam", NIM A Vol. 493, pages 536-546 (2000)

Hledat
10th Anniversary of IEAP