Metoda “Rentgenová dynamická defektoskopie (XRDD)” využívá zobrazovač Medipix k sledování časového vývoje poruch vznikajících v zatěžovaném materiálovém vzorku. I když je sledovaný materiál zatěžován spojitě a pomalu, defekty přesto mohou vznikat nespojitě a relativně rychle. Z tohoto důvodu je pro skutečnou dynamickou (časově závislou) defektoskopii klíčová možnost rychlého vyčítání rentgenových snímků.

Uvedená metoda umožňuje sledování změn v hustotě materiálu s přesností na úrovni mikrometrů. Testovaný vzorek je během zatěžování ozařován rentgenovým zářením. Měří se změny v prošlém svazku, které ukazují na změny v tloušťce vzorku, které jsou interpretovány jako zeslabování materiálu v důsledku vznikajících poškození.

Citlivost metody XRDD závisí na poměru intenzity původního a prošlého rentgenového svazku, na množství odražených fotonů, na účinnosti detektoru Medipix při dané použité energii fotonů a na spektru použité rentgenky.