ÚTEF - Ústav technické a experimentální fyziky ČVUT - České vysoké učení technické v Praze
Česky English
ÚTEF - Ústav technické a experimentální fyziky ČVUT - České vysoké učení technické v Praze
ČVUT - České vysoké učení technické v Praze
Semináře  > X-ray diffractometry with pixel detector MEDIPIX at PANanalytical
X-ray diffractometry with pixel detector MEDIPIX at PANanalytical

Datum
22.2.2006 14:00
Přednášející
Dr. Klaus Bethke a Dr. Roelof de Vires PHILIPS PANanalytical, Nizozemsko


Obsah

Hledat
10th Anniversary of IEAP