X-ray diffractometry with pixel detector MEDIPIX at PANanalytical
Dr. Klaus Bethke a Dr. Roelof de Vires
PHILIPS PANanalytical, Nizozemsko
Abstrakt:
Seminář se koná ve středu 22. února ve 14:00
NUCLEAR & PLASMA SCIENCES SOCIETY CHAPTER
IEEE Czechoslovakia section
http://www.ieee.cz/en/nps